探針冷熱臺適配電化學工作站搭建導納譜測試平臺

一、測試介紹

在材料科學與電化學領域，研究材料在不同溫度下的C-F和C-V特性對于理解其電學性能和潛在應用至關重要。為了滿足這一科研需求，果果儀器探針冷熱臺ECH600S適配上海辰華660E電化學工作站，搭建導納譜測試平臺，以在不同溫度條件下進行C-F和C-V測試。

二、測試準備

1、果果儀器探針冷熱臺ECH600S：精準控溫，使得樣品在不同溫度條件下進行測試。

↑ 果果儀器探針冷熱臺ECH600S ↑

產品參數特點：

1. 溫度范圍：-190~600℃；

2. 溫度穩定性:±0.1℃；

3. 變溫速率：0~30℃/min（可定點/程序段控溫）；

4. 樣品臺尺寸：23*23mm；

5. 電流精度優于毫安級，升級了探針高度，使得更好扎針。

2、上海辰華電化學工作站：進行電化學測試，并實時記錄和分析電化學參數的變化。

3、樣品準備

材料是有機無機鈣鈦礦，器件基本結構從下往上依次為ITO玻璃/SnO2/鈣鈦礦層/Spiro-OMeTAD/金或銀。

三、測試平臺搭建

1、設備連接與校準

首先，將果果儀器探針冷熱臺ECH600S與上海辰華660E電化學工作站進行連接。確保連接穩固后，對電化學工作站進行預熱和校準，以保證測試結果的準確性。同時用探針冷熱臺配套的溫控軟件進行溫度設定，保證溫度控制的穩定性和準確性。

2、放置樣品

將待測樣品放置于探針冷熱臺的載樣臺上，確保樣品與探針之間形成良好的接觸。根據實驗需求，選擇合適的探針配置。然后在電化學工作站上設置C-F和C-V測試的參數，包括電位范圍、頻率范圍等，確保所有設置符合實驗要求。

3、導納譜測試平臺搭建

結合電化學工作站和探針冷熱臺的功能，搭建導納譜測試平臺。利用電化學工作站的快速數據采集系統和外部信號輸入通道，實時記錄和分析不同溫度下的C-F和C-V數據。同時，通過探針冷熱臺的溫控系統，精確控制測試過程中的溫度變化，以研究不同溫度對材料電化學性能的影響。

四、測試過程

1、溫度調節

在測試開始前，用果果儀器探針冷熱臺控溫至所需的測試溫度并保持穩定，以避免對測試結果產生干擾。

2、C-F和C-V測試

在設定的溫度下，進行C-F測試。通過改變頻率并記錄電容值的變化，分析材料的電容特性與頻率的關系。觀察不同頻率下電容值的波動情況，以及是否存在明顯的頻率依賴性。

在相同的溫度下，進行C-V測試。通過改變電壓并記錄電容值的變化，分析材料的電容特性與電壓的關系。觀察不同電壓下電容值的變化趨勢，以及是否存在非線性或滯后現象。

3、數據記錄與分析

將測試數據記錄下來，并利用電化學工作站的數據處理軟件進行分析。通過對比不同溫度條件下的C-F和C-V曲線，研究溫度對材料電容特性的影響。分析溫度變化對電容值、頻率依賴性、電壓依賴性等參數的影響規律。

五、測試結論

通過利用果果儀器探針冷熱臺ECH600S適配上海辰華660E電化學工作站搭建的導納譜測試平臺，成功的進行了在不同溫度下進行C-F和C-V測試。這一測試平臺不僅具有高精度和高穩定性的溫度控制能力，還具備強大的電化學測試功能，為深入研究材料的電化學性能提供了有力工具。